助力光芯片测试自动化，深圳伽蓝特9月亮相CIOE 2023

 

硅光芯片测试光电探针台

 

产品简介

伽蓝特推出的高精度硅光芯片测试光电探针台，基于双六轴耦合对准，可集成多种仪器仪表，满足客户多样化芯片测试需求，可支持芯片类型包括：E/O（电光调制器）芯片，O/E（光电探测器），芯片 O/O （光纤滤波器）芯片，以及光电集成类芯片。

  

产品特性

双六轴高精度位移台

高清成像系统

67~110G射频探针

 

产品应用

光芯片S参数测试

光芯片传输特性测试

光芯片光电指标测试

 

高功率LD芯片自动化测试和老化装备

LD测试系统

 

产品简介

ATS-LD-CS激光二极管测试系统集成LIV、光谱和偏振度测试，整套系统采用自动化运动控制，实现高功率COS激光芯片的一站式测试，具有性价比高，测试速度快等优势，适用于高功率COS激光芯片厂家的批量生产测试。

 

产 品特性

自动上料和筛选分料

自动识别基板序列号

积分球型光电探测器

 

产品应用

高功率COS激光芯片生产测试

实验与科研

 

LD老化系统

 

产品简介

LD老化系统是一款用于高功率CoS激光芯片的批量老化的设备，由激光器参数采集、定制夹具和热管理、高功率恒流电源、在线管理软件等部分组成，具有集成度高、可靠性好、容量大等特点，多重安全防护机制设计，确保设备的安全性及可靠性。

 

产品特性

单层独立控制，最大输出电流为60A

CW/QCW工作模式

最多支持200个芯片同时老化

实时监控电流电压，温度，光功率等参数

 

产品应用

高功率COS激光芯片老化及寿命测试

实验与科研

 

800Gbps 误码测试仪和56GBd光电时钟恢复

 

产品简介

伽蓝特推出高性能800Gbps PAM4 误码测试仪和56GBd 光电时钟恢复，可用于高速通信领域的器件研发和制造，如通信器件、射频线缆、光模块等测试，同时误码仪还支持多速率输出和NRZ/PAM4/PAM4+FEC多种模式，满足不同测试需求。 

 

产品特性                                

KP4 FEC 功能

内置时钟恢复

支持自定义码型

 

产品应用

800Gbps光模块研发测试

高速有源线缆生产测试

 

O波段扫描光源

 

产品简介

伽蓝特推出的高性能1260~1360nm O波段扫描光源可以实现高精度的连续波长调节，并且内部集成温度控制和光隔离器，具有良好的波长稳定性和长期可靠性，是密集波分复用系统测试的必备光源。

 

产品特性                             

1260~1360nm波长范围

10pm波长分辨率

保偏光纤输出

 

产品应用

 光器件自动化测试

实验室及科研