测试仪器
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PAM4 误码测试仪
PAM4 误码测试仪是一款面向200G、400G 高速光收发模块测试的高性能误码测试仪。普通误码仪只能产生单一码型,而PAM4 误码测试仪可在无需任何外围附件的条件下任意切换 NRZ 和PAM4 码型,更兼具内外触发、输出幅值调节、PAM4 发射信号电平比例调节等功能,可为200G 和400G高速光收发模块自动化生产测试提供有效保障。
• 支持PAM4 和NRZ 码型任意切换
• PAM4 速率从24.33GBaud 到30GBaud
• 支持格雷编码和FEC
• 满足 IEEE 802.3bs 400G, OIF-CEI-56G/28G 测试要求¥ 0.00立即购买
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光功率计
光功率计作为一种基础的光信号测量仪器,内置大敏面光电探测器和高精度光电检测单元,在65dB 动态范围内实现优于0.2dB 的光功率测量精度,可广泛应用于各种光信号测量领域。
• 最小可测量光功率-65dBm
• 最大可测量光功率+25dBm
• 模拟输出可选
• 高速同步触发可选¥ 0.00立即购买
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多波长光源
多波长组合光源,采用ITU 波长半导体激光器和精确温度控制技术,具有极高的波长输出准确性和长期稳定性,集成软件远程控制,适用于光器件自动化生产测试。
• 多通道组合输出
• 波长精确
• 长期稳定性高¥ 0.00立即购买
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激光二极管测试系统(半自动)
GTA5521 激光二极管测试系统(半自动)由COS 测试平台、积分球、TEC 温度控制系统、加电装置等部分组成。采用标准机柜,使用方便,具有较高的测试重复性及稳定性,适用于芯片研发与生产。
• 根据芯片尺寸定制芯片夹具
• 快速装夹,使用方便
• 散热好、重复性及稳定性高¥ 0.00立即购买
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激光二极管测试系统(低成本)
GTA5522 激光二极管测试系统(低成本)具备LIV、光功率和光谱测试功能。整套系统采用定制的芯片夹具,测试完成后可迅速装载到COS 老化台上,性价比高,方便快捷,非常适用于COS 芯片厂家的老化前测试。
• 标准芯片夹具,快速装载
• 稳定性高
• 自动识别基板序列号¥ 0.00立即购买
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激光器二极管测试系统
GTA5520 激光二极管测试系统具备LIV、光谱、偏振度测试功能。整套系统采用自动化控制,实现高功率COS 芯片的一站式测试,具有高精度、高可靠性、性价比高及测试速度快等优势,适用于COS 芯片厂家的批量生产测试。
• 稳定性高
• 自动识别基板序列号
• 自动上料和筛选分料¥ 0.00立即购买
光电行业中,无论是光芯片,光引擎,还是光器件,都需要经过严格测试数据来进行表征其性能。针对高速光通信,激光雷达,光纤光栅传感等不同领域伽蓝特可提供多种测量仪表如光功率计,光衰减仪,误码测试仪,光开关,各类光源等用于自动化生产和实验室研发。
老化设备
老化是高功率半导体激光器生产过程中的一道重要工序,通过长时间老化筛选出寿命较短的产品,使剩下的产品都具有令人满意的可靠性。伽蓝特的老化设备具有功能完备、可靠性高的优点,可供大功率激光器的研制和应用单位推广使用。
测试设备
性能测试是高功率半导体激光器芯片和器件生产过程中的一道重要工序,参数指标可直接判断其是否合格,自动化测试在大规模生产过程中可节省大量人力成本和更精细化管理。