近场模式测试系统

GTA5523 近场模式测试系统集成了LD 加电系统、TEC 温度控制系统和光斑分析系统，可对激光光束的光斑大小，形状和能量分布等参数进行全面的测试和分析。测试软件提供2D或3D 的图像，并对分析的结果进行打印输出。整台机器采用机柜式设计，占地面积小，且芯片装载方便，易于使用，是光芯片厂家生产测试及研发的理想选择。

• 2D 或3D 图像显示
• 快速装夹，使用方便
• 散热好、重复性及稳定性高