描述

测试系统采用NRZ/PAM4误码测试仪，可调光衰减仪，宽带示波器，光开关，可编程直流电源，测试板和波分复用器等组成100G/400G/800G光模块自动化测试系统，可满足RX端灵敏度测试，TX端光眼图测试，以及光模块调试等功能。

应用于100G/400G/800G光模块生产制造和研发测试。

应用

光通信模块自动化测试解决方案

多通道并行测试，支持用户二次开发，可灵活搭建标准化生产系统。

特点

描述

测试和老化是表征高功率半导体激光器芯片性能的主要方法，伽蓝特高功率半导体激光器解决方案分为测试与老化两大系列。高功率COS芯片生产测试有多个型号可选，包括低成本、半自动、自动的测试台，测试项目包括LIV曲线，光功率，光谱，偏振度，发散角等，也有适用于研发的近场光斑测试台。老化系列产品有高功率COS芯片老化、高功率半导体激光泵浦源老化等。可提供多样化、全方位的解决方案，可根据需求定制测试与老化设备。

高功率COS芯片性能测试与老化分析、泵浦源测试与老化分析、实验室及科研。

应用

高功率半导体激光器测试与老化解决方案

芯片测试：支持芯片参数分类，自动化上料和下料，ID识别；

芯片老化：支持CW和QCW工作模式，在线光功率监测。

特点

描述

测试系统采用裸片级光电探针台，可调谐光源，偏振控制器，SMU源测量单元，RF探针，光开关，高速光功率计，误码测试仪，光波元件分析仪，光谱分析仪，光时钟恢复单元，宽带示波器等设备组成，可支持多种类型的光电集成芯片的自动耦合与测试。

光芯片耦合：水平耦合对准，垂直耦合对准；

光电芯片测试：LIV测试，S参数测试，眼图测试，光谱测试。

特点

微纳光电测试解决方案

硅基光电芯片耦合测试，高速通信光芯片研发测试，激光雷达光芯片研发测试。

应用